北理工分析測試中心舉辦顯微成像分析技術(shù)交流會
發(fā)布日期：2021-10-21 供稿：分析測試中心 張芳 攝影：陳尚
編輯：李世青 審核：彭紹春 閱讀次數(shù)：
“十三五”以來,，北京理工大學(xué)分析測試中心緊密圍繞學(xué)校“雙一流”建設(shè)中心任務(wù),，以滿足多學(xué)科發(fā)展及高層次人才需求為主要目標(biāo),，累計引進(jìn)雙球差校正電鏡、單球差校正電鏡,、場發(fā)射透射電鏡,、雙束掃描電鏡、原子力顯微鏡等大型電鏡類儀器設(shè)備,，打造了設(shè)備種類多樣,、搭配合理、功能全面,、性能優(yōu)異的高水平電鏡平臺,，為我校相關(guān)學(xué)科的科學(xué)研究和人才培養(yǎng)工作起到重要的支撐保障作用。
為使我校師生更好的了解掃描電鏡技術(shù)與應(yīng)用的最新進(jìn)展,，10月15日,，中心聯(lián)合卡爾·蔡司公司在良鄉(xiāng)校區(qū)工業(yè)生態(tài)樓118會議室舉辦了顯微成像分析技術(shù)研討會。本次交流會由中心電鏡平臺主管張芳主持,，特邀蔡司公司高級應(yīng)用工程師楊瑞和沙學(xué)超作報告,。來自化學(xué)與化工學(xué)院、物理學(xué)院、材料學(xué)院,、光電學(xué)院,、先進(jìn)結(jié)構(gòu)技術(shù)研究院、前沿交叉科學(xué)研究院,、醫(yī)工融合研究院、徐特立學(xué)院,、求是書院等單位的80余名師生到場參會,。
中心副主任許冰致歡迎詞，介紹了中心近幾年來的發(fā)展建設(shè),、電鏡平臺大型設(shè)備的引進(jìn)及配置情況,，并向蔡司公司對本次交流會的支持表示感謝。蔡司公司高級應(yīng)用工程師楊瑞為與會師生介紹了蔡司掃描電鏡最新技術(shù)進(jìn)展,，分享了掃描電鏡在金屬材料,、電池材料、高分子復(fù)合材料等領(lǐng)域的應(yīng)用,；蔡司北京實驗室應(yīng)用工程師沙學(xué)超為與會師生介紹了LaserFIB最新技術(shù)的進(jìn)展和發(fā)展趨勢,，分享了LaserFIB在材料科學(xué)樣品制備領(lǐng)域的最新應(yīng)用。與會師生們就自己在科研課題中遇到的相關(guān)表征與分析的技術(shù)問題與專家進(jìn)行了深入交流,，專家們詳細(xì)講述了如何利用掃描電鏡表征與分析技術(shù)去解決在科學(xué)研究中遇到的各種實際問題并做出高水平學(xué)術(shù)成果,。
交流會結(jié)束后，與會人員參觀了中心電鏡平臺各實驗室,，并與中心技術(shù)人員開展了現(xiàn)場交流,。此次交流會是中心“我為群眾辦實事”系列活動之一，得到了參會師生的高度認(rèn)可,。中心將繼續(xù)圍繞我校相關(guān)學(xué)科的發(fā)展建設(shè),，以廣大師生的切實需求為出發(fā)點，繼續(xù)舉辦此類活動,，促進(jìn)廣大師生交流,，提高專業(yè)人員專業(yè)技能，充分發(fā)揮中心在學(xué)?！半p一流”建設(shè)中的重要作用,。
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